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华尔网绝缘子盐密度测试仪　相关术语：1、参照盘形悬式绝缘子 reference cap and pin insulatorXP-70、XP-160、LXP-70和LXP-160普通盘形悬式绝缘子（根据GB/T 7253），通常7~9片组成一串用来测量现场污秽度。2、爬电距离 creepage distance在两个导电部分之间，沿绝缘体表面的短距离。注：水泥或其他非绝缘胶合材料表面不认为是爬电距离的构成部分。如果绝缘子的绝缘件的某些部分覆盖有高电阻层，则该部分应认为是有效绝缘表面并且沿其上面的距离应包括在爬电距离内。3、统一爬电比距 unified specific creepage distance（USCD）绝缘子的爬电距离与其两端承担的运行电压（对于交流系统，为相电压）之比，mm/kV。4、附盐密度 salt deposit density（SDD）人工涂覆于给定绝缘子表面（不包括金属部件和装配材料）上氯化钠总量除以表面积，mg/cm2。等值附盐密度 绝缘子单位绝缘表面上的等值附盐量，mg/cm2。6、不溶物密度（简称灰密） ）绝缘子单位绝缘表面上清洗的非可溶残留物总量除以表面积，mg/cm2。7、现场等值盐度根据GB/T 4585进行盐雾试验时的盐度。用该盐度试验，在相同绝缘子和相同电压下，产生的泄露电流峰值与现场自然污秽条件下的泄露电流基本相同。8、现场污秽度 s）在适当的时间段内测量到的污秽严重程度ESDD/NSDD或SES的值。9、现场污秽度等级 s将污秽严重程度从非常轻到非常严重按SPS的分级。10、带电系数K1 同形式绝缘子带电所测ESDD/NSDD（SES）值与非带电所测值之比，K1一般为 主测量界面图2.2开机，即为测量页面，测量工作均在此页面进行，相关按钮介绍见下表：按钮名称功能“参数切换至“参数设置界面记录切换至“记录查看界面”“校准”校准盐密、灰密基准值“搅拌”将溶液污秽物拌匀并测量灰密值“打印打印本次测量结果“保存”保存测试结果到内存中

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