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华尔网变压器有载开关测试仪变压器有载分接开关参数测试仪一、论述测试方法及测试标准1.1长期以来在现场采用直流方法试验存在的问题长期以来，电力行业在变电站现场检测变压器有载分接开关的过度波形，一直采用直流方法进行试验，所获取的波形与分接开关制造商出厂试验波形进行比对。由于分接开关制造商出厂试验波形是对裸开关进行试验，而在变电站现场检测是在变压器有载分接开关带绕组状态下进行的试验，开关带绕组状态下电路中存在电感和电容量，使得直流试验电流通过绕组在开关切换时不能突变，造成测试出的过度波形两者差异很大，在分析波形时会出现无法判读等问题，使开关制造商与开关使用方在判断开关故障时产生很大争议。目前使用的《直流法有载开关测试仪》在开关带绕组状态下进行测试时，要求对波形要做滤波处理(仪器内设有滤波处理功能)，经过滤波处理后的开关过度波形是不真实的波形，不能真实反应出有载开关在开关动作过程中存在的缺陷。从技术方面分析，《直流法有载开关测试仪》由于受测试技术方法和技术能力的限制，在使用过程中还存在诸多不足，主要表现在以下几个方面：a) 直流测试由于其测试原理、技术能力等原因，有时测试获取的波形与制造商给出的波形差异较大，无法给出准确分析结论。诺在现场吊出分接开关，甩开绕组再进行检查、试验，必将影响新设备、大修后设备的投运。为防止分接开关事故，有些地方甚至将无法判定分接开关是否存在缺陷的变压器改做无载调压变压器运行。b) 直流试验方法仅适用于绕组中性点处并有中性点抽出的有载分接开关测试，对绕组中性点以外的其它位置(线端、中部等)处的有载分接开关以及单相变压器有载分接开关不能测试。c) 测试出的部分直流波形有异常,但无法判定分接开关动作特性是否正常，诺投入运行，不能保证分接开关的运行。d) 近年来在变压器设计上采用了很多新技术，如电抗式分接开关、真空断路器式分接开关等使用，直流测试方法已不能满足现场试验需要。
华尔网变压器有载开关测试仪单相变压器测试①单相测试主要用于测量单相变压器的短路阻抗，在短路阻抗测量界面下选择“5、单相变压器测试”，按“确认”键进入短路阻抗参数设置界面，同图五。在参数设置界面输入相关参数后按“确认”键，进入测试界面，如图十三：图十三②接线方法短接变压器的对侧接线端子a-x。单相电源接仪器的“入IA”、“入IB”，黄色测试钳一端接变压器接线柱，另一端接仪器的“出IA”和“出Ua”；绿色测试钳一端接变压器接线柱，另一端接仪器的“出IB“和“出Uo”，如图十四所示2、变压器三相负载的测量 图十四①测试方法在主菜单界面选择“三相负载”菜单，按“确认”键进入参数设置界面，如图十五： 图十五按“选择”键选择输入项；←、→ 键用来改变输入位；↑、↓键用来改变输入位数值的大小；按“返回”键退出参数设置界面；按“确认”键保存当前参数后即可进入测量界面，如图十六：图十六在此测量界面按“打印”键可打印数据；按“存储”键存储数据（可选存储介质：本机、优盘）；按“确认”键锁屏，按“取消”键重新测量，按“返回”键返回上一界面。说明：A、显示的“阻抗电压” 、“额定损耗”均是指参数输入折算温度下的折算值。B、由于附加损耗中各部分损耗与频率的关系各不同，而且各部分所占的比例也难分开，不好校正，当负载试验电源的频率与额定频率相比其偏差小于5%时，对负载损耗的测量精度影响不大，满足本仪器精度。 即负载损耗测试适用的电源频率为50Hz±5%。当试验频率不等于额定频率时（其偏差小于5%），负载损耗可以认为近似相等。
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华尔网变压器有载开关测试仪现场打印测试报告需要打印测试报告，便可点击打印按钮，进入打印界面，如图十八所示。若直接用机载的微型打印机打印数据及波形：选择“在线简略打印”、“输出到打印”若要输出PDF文件：选择“标准打印”、“输出到PDF文件”，可以生成一个PDF格式的文档，以便于保存电子版或对其内容进行再次编辑修改。图十八6.4 选择“外接电源”方式测试：外接电源试验方法是由用户自备试验电源，对变压器有载分接开关进行导通试验。本装置测试接线设计有“外接电源”测试功能，测试时按照第四章“试验接线”中的图三、或图四、或图五接线。项目设置及操作流程与“内接电源”方式相同。6.5脱机分析或重新编辑试验报告本系统是一款绿色软件，可随意安装在办公室电脑中（安装路径：C:\Program Files\）。从测试仪器界面的文件下拉菜单中将数据导出，用U盘再将数据导入到办公室电脑中，可对测试波形重新进行分析或编辑。具体操作见6.1节数据查询分析。6.6历次数据查询功能历次数据查询功能可以查询以前测试并保存过的数据和波形。具体操作步骤如下：⑴ 开数据查询窗口点击菜单区中【数据查询】项，即可打开数据库中窗口，如图十三所示：点击选择需要的项目条（该项目条颜色变深）后，再点击下方的【打开】键，弹出图十一界面，点击【应用】、【确认】键后，波形自动回放当前界面中。⑵ 查找要打开的测试记录
